浙江涂镀层CAF测试系统试用

目前**常使用是萃取溶液电阻率（ROSE）测试法。该方法参考IPC-TM-650 2.3.25标准[3]，以75%异丙醇加25%去离子水（体积比）为测试溶液，冲洗车用PCB表面并使残留在板面上的污染物溶解到测试溶液中。由于这些污染物中的正负离子使测试溶液的电阻率降低，溶进测试液中的离子越多其电阻率降低得也越多，二者具有反比函数关系。正是利用这种函数关系，通过测定测试液冲洗前后的电阻值及所使用测试液的体积，可以计算出PCB表面残留离子的含量，并规定以每平方厘米NaCl当量来表示，即μgNaCl/cm2。一些主要的汽车零部件供应商的测试要求具体如表1所示。常州中策仪器有限公司创建于1999年，是一家集研发、制造、营销于一体的****，欢迎来电咨询。浙江涂镀层CAF测试系统试用

平均CAF失效时间的分解分析从上面的一系列试验中，可以证明水解时间和电化学迁移时间之间是相互独立的，水解时间和电化学迁移时间互相没有影响：①未施加偏压的情况下，水解过程也可进行；在施加外加偏压的情况下，水解速度无明显加快或延缓；水解时间与外加偏压无关。②指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的，且随着孔壁间距的上升而近似成正比关系上升。因此平均CAF失效时间可以拆分成水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验。那么以下公式应是成立的：平均CAF失效时间（MTF）=水解时间（T1）+电化学迁移时间（T2）。当外加偏压较大（100V以上）时，电化学迁移速度快于水解速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于水解时间（T1），接近于材料A在指定孔壁间距下的水解时间；当外加偏压较小（10V以下）时，水解速度快于电化学迁移速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于电化学迁移时间（T2）。而水解时间（T1）不受外加偏压影响，电化学迁移时间（T2）受外加偏压影响，因此图5中的曲线随着外加偏压的变化呈现两段趋势。天津汽车电子可靠性CAF测试系统品牌常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要欢迎来电噢；

总结本文通过分析CAF失效机理，详解了CAF失效分析方法，提出相应的改善对策，为CAF失效问题提出了预防思路。5.1CAF失效机理（1）CAF失效通过两步进行：第一步：化学键水解；第二步：导电阳极丝增长。（2）CAF形成的影响因素主要包括PCB设计的影响，板材配本的影响，PCB加工过程的影响。5.2CAF失效的分析方法（1）通常使用半分法来锁定失效区域；（2）使用切片观察，垂直研磨找出层数，水平研磨找CAF失效点；（3）SEM&EDS分析，使用SEM观察外观，EDS对不良区域进行元素分析。5.3防止CAF效应对策应从设计、制作、分析三方面进行***入手，尽量避免使用可能增大CAF效应的方法。

ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性，而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度，故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试，如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等，以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性；离子迁移既然是绝缘信赖度的***，因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管，因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如：加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管，导致ECM或CAF的生成，便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍；藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度（防焊前处理），这些对绝缘劣化影响很大的项目，可以大幅提升高密度电路板的信赖性。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要，欢迎来电咨询噢；

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全自动耐电流测试仪可以用于自动寻找PCB孔链导通可靠性测试样品的耐电流测试合适的电流参数。仪器采用高精度的电源模块和温度以及电阻采集模块，对PCB孔链测试样品,自动尝试不同的电流,循环进行升温,冷却的过程,并实时监测孔链的温度，电流，以及电阻。直到找到合适的电流,PCB孔链样品在此电流下，达到测试要求。全自动耐电流测试仪也可以用于PCB孔链的耐电流测试。全自动耐电流测试仪测试过程中，仪器自动完成测试探头移动，对位，上下，样品的参数测试和批量测试，样品冷却，数据保存和记录，数据统计分析，以及测试报告的输出等。全自动耐电流测试仪，采用人工上板或配置机械手自动上板，按照设定的测试程序，自动移动测试探头和CCD自动对位，进行测试，测试完成后人工下板或自动下板。浙江涂镀层CAF测试系统试用

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